Pencitraan 2D dan 3D optical beam induced voltage menggunakan sensor fotoresistor

Pencarian berdasarkan :

SEMUA Pengarang Subjek ISBN/ISSN Pencarian Spesifik

Pencarian terakhir:

Text

Pencitraan 2D dan 3D optical beam induced voltage menggunakan sensor fotoresistor

Musman, Asti - Nama Orang; Sudarwati - Konferensi; Widayanti, Rochmi - Konferensi; Wulolo, Crista Fianica - Konferensi;

Artikel ini menunjukkan sebuah metode untuk memaharni sistem pencitraan OBIV (optical beam induced voltage) yangrnbiasanya menggunakan sistem laser scanning microscopy. Sistem pencitraan OBIV ini memanfaatkan sensorrnfotoresistor sebagai sampel uji yang sekaligus dapat digunakan untuk menganalisis homogenitas tanggapannya.rnResolusi dari sistem pencitraan ini masih terlalu rendah yaitu sekitar 350J.lm disebabkan oleh besamya diameter cahayarnjatuh. Hasil pencitraan OBIV menginformasikan bahwa fotoresistor memberikan tanggapan optimal ketika cahaya jatuhrnpada bagian tengah permukaannya.

Ketersediaan

Tidak ada salinan data

Informasi Detail

Judul Seri: Makara seri teknologi
No. Panggil: -
Penerbit: : American foundations information service., 2005
Deskripsi Fisik: -
Bahasa: Indonesia
ISBN/ISSN: 1693-6698
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: Vol. 9, No. 1, Tahun
Subjek: -
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: -

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar