Artikel ini menunjukkan sebuah metode untuk memaharni sistem pencitraan OBIV (optical beam induced voltage) yangrnbiasanya menggunakan sistem laser scanning microscopy. Sistem pencitraan OBIV ini memanfaatkan sensorrnfotoresistor sebagai sampel uji yang sekaligus dapat digunakan untuk menganalisis homogenitas tanggapannya.rnResolusi dari sistem pencitraan ini masih terlalu rendah yaitu sekitar …