Elektronic speckle pattern interferometri (ESPI)

Pencarian berdasarkan :

SEMUA Pengarang Subjek ISBN/ISSN Pencarian Spesifik

Pencarian terakhir:

Text

Elektronic speckle pattern interferometri (ESPI)

Kuswandana, Yusyus - Konferensi; Ara, Alfonsus Very - Konferensi;

Ada beberapa teknik uji untuk mengetahui kondisi suatu materialrnSalah satu diantaranya teknologi optik dengan beberapa ,kelebihan yaiturnsensitivitas, presisi, sifatnya yang tidak kontak terhadap objek danrndapat digunakan sampai orde yang sangat kecil serta kecepatan yangrntinggi.

Ketersediaan

Tidak ada salinan data

Informasi Detail

Judul Seri: Pendidikan science
No. Panggil: -
Penerbit: : ., 1998
Deskripsi Fisik: -
Bahasa: Indonesia
ISBN/ISSN: ISSN 0853-3792
Klasifikasi: -
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: Vol. XXII, No. 2, Tahun
Subjek: -
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: -

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar