Ditapis dengan

  • Tahun Penerbitan
  • Ketersediaan
  • Lampiran
  • Tipe Koleksi
  • Format Fisik Dokumen
    Lihat Lebih Banyak
  • Lokasi
    Lihat Lebih Banyak
  • Bahasa
Ditemukan 1 dari pencarian Anda melalui kata kunci: author="Ara, Alfonsus Very"
cover
Elektronic speckle pattern interferometri (ESPI)
Komentar Bagikan
Kuswandana, YusyusAra, Alfonsus Very

Ada beberapa teknik uji untuk mengetahui kondisi suatu materialrnSalah satu diantaranya teknologi optik dengan beberapa ,kelebihan yaiturnsensitivitas, presisi, sifatnya yang tidak kontak terhadap objek danrndapat digunakan sampai orde yang sangat kecil serta kecepatan yangrntinggi.

Edisi
Vol. XXII, No. 2, Tahun
ISBN/ISSN
ISSN 0853-3792
Deskripsi Fisik
-
Judul Seri
Pendidikan science
No. Panggil
-