Development of seebeck-coefficient measurement systems using kelvin-probe force microscopy

Pencarian berdasarkan :

SEMUA Pengarang Subjek ISBN/ISSN Pencarian Spesifik

Pencarian terakhir:

Text

Development of seebeck-coefficient measurement systems using kelvin-probe force microscopy

Prasetyo, Wahyu Deni - Konferensi; Subekti, Aji - Konferensi; Murni, Ruaida - Konferensi;

Sejumlah peneliti mengkaji alat termoelektrik untuk meningka,kan efisiensi termoelektrik. Telah diketahui bahwa efisiensi dapatrnditingkatkan dengan efek kuantum. Namun, pengukuran ciri-ciri termoelektrik sulit dilaksanakan pada struktur-strukturrnberskala nanometer. Oleh karena itu, sebuah metode pengukuran baru harus dikembangkan. Kami menyarankanrnpenggunaan mikroskopi gaya pengamatan Kelvin (Kelvin-probe force microscopy atau KFM) di dalam prosesrnkarakterisasi materi-materi termoelektrik. KFM dapat secara lokal mengamati potensi permukaan energi Fermi darirnsebuah sampel tanpa menyentuh permukaan sampel itu. Di dalam makalah ini, kami memperkirakan koefisien Seebackrndari lapisan-lapisan insulator Si-on menggunakan KFM.

Ketersediaan

Tidak ada salinan data

Informasi Detail

Judul Seri: Makara seri teknologi
No. Panggil: 600 Mak
Penerbit: : American foundations information service., 2013
Deskripsi Fisik: -
Bahasa: English
ISBN/ISSN: 1693-6698
Klasifikasi: 600
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: Vol. 17, No. 1, Tahun
Subjek: -
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: -

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar