Masa hidup lubang pada detektorrnberfoton tunggal (single-photon detector) trasistor efek-medan semikonduktor-metal oksida (metal-oxidesemiconductorrnfield-effect transistor atau MOSFET) silicon-on-insulator (SOl) dievaluasi dengan menganalisisrnhistogram-histogram arus kering yang dihasilkan dari intensitas cahaya dan voltase substrat yang berbeda-beda.rnDitemukan bahwa puncak-puncak pada hist…